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产品名称:薄膜测厚仪
产品型号:CH-1-S
产品报价:
产品特点:本测厚议适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准
技术参数:1. 量程:0-1mm 分度值:0.001mm2. 上测头曲率半径:15-50mm3. 测头对试样施加负荷我:0.1-0.5N4. 测量精度:100vm以内<1vm100-250vm<2vm250vm<3vm
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